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日本理学ZSX Primus IV上照射波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)

日本理学ZSX Primus IV波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性,具有 30 微米 Be 管窗口,是业内最薄的标准管窗口,具有出色的轻元素(低 Z)检测限。 优点

集合所有ZSX系列的优点:双真空系统,自动真空控制,Mapping/微区分析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。可灵活分析复杂样品。

30μm超薄窗光管,保证轻元素分析灵敏度。

最先进的Mapping包可以检测同质性和夹杂物。

较小的占地面积。

30 μm超薄窗Mapping

He 密封:样品室一直在真空环境中。

数字多通道分析仪 (D-MCA) 系统有助于实现高计数率的高速数字处理,从而提高分析精度及效率。


安全性

采用上照射设计,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。


■ 应用领域

液体、合金和电镀金属的元素分析。


■ 技术参数

广泛的元素分析范围Be-U

占地面积小,节省实验室空间

500μm微观分析

下照射式设计适合液体和松散粉末要样品

30μmX射线管提供卓越的超轻元素性能

用于元素分布的Mapping分析

氦气密封是指样品室始终在真空的条件下

 


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